Một bồi thẩm đoàn Mỹ ngày 28/5 đã chính thức buộc tội 12 công dân Trung Quốc gian lận trong các cuộc thi đầu vào các trường đại học của Mỹ.

Thẩm phán David Hickton thuộc bang Pennsylvania cho biết bản cáo trạng bao gồm 35 tội danh cho 12 bị cáo, bao gồm 7 đối tượng nam và 5 đối tượng nữ tuổi từ 19-26.

10 người trong số này đang cư trú tại Boston, Pittsburgh, California, Wisconsin, Oregon, Pennsylvania, Virginia và Massachusetts.

Hiện mới có duy nhất đối tượng tại Massachusetts bị bắt giữ.

Cơ quan chức năng đã ra lệnh bắt đối với 9 cá nhân còn lại cùng 2 đối tượng khác hiện đang ở Trung Quốc.

Bản cáo trạng cho thấy sự gian lận tinh vi có hệ thống kéo dài 4 năm từ 2011-2015, trong đó các sinh viên tương lai bỏ ra tới 6.000 USD để thuê người đi thi hộ, sử dụng hộ chiếu giả gửi tới từ Trung Quốc.

Ảnh minh họa. (Nguồn: forbesindia.com)

Một bồi thẩm đoàn ở thành phố Pittsburgh đã buộc tội các bị đơn, bao gồm cả người đi thi hộ và người hưởng lợi, với tội danh âm mưu phạm tội, làm giả hộ chiếu, gian lận thư tín.

Đặc vụ John Kelleghan của Cơ quan Điều tra An ninh nội địa Mỹ cho hay những sinh viên này không chỉ gian lận trong các kỳ thi mà còn có hành vi hủy hoại hệ thống nhập cư của Mỹ.

Theo luật pháp của Mỹ, mức án cao nhất đối với tội danh gian lận là 20 năm tù giam và 250.000 USD tiền phạt, làm giả hộ chiếu là 10 năm tù và 250.000 USD tiền phạt, âm mưu phạm tội là 5 năm tù và 250.000 USD tiền phạt.

Ông Hickton cho biết công tác điều tra vẫn chưa kết thúc và cơ quan chức năng nhận định vẫn còn nhiều sinh viên, cả trong nước và nước ngoài, đã và đang gian lận trong các cuộc thi đầu vào. Trước đó, đã có nhiều báo cáo về hành vi gian lận trong các kỳ thi SAT tại châu Á, đặc biệt tại Trung Quốc đại lục, Hong Kong (Trung Quốc) và Hàn Quốc.

Theo thống kê từ Viện Giáo dục quốc tế Mỹ, Trung Quốc là nước có số sinh viên du học tại Mỹ cao nhất, với 274.439 sinh viên trong giai đoạn 2013-2014, chiếm 31% tổng số sinh viên nước ngoài. Tiếp theo đó là Ấn Độ với 11,6% và Hàn Quốc 7,7%./.