Thêm trường hợp iPhone 8 Plus bị phồng nứt máy nghi do pin

Anthony Wu, một người dùng iPhone 8 Plus ở Toronto, Canada đã chia sẻ hình ảnh tới trang tin MacRumors cho thấy màn hình điện thoại bị phồng rộp, nứt khỏi thân máy.
Thêm trường hợp iPhone 8 Plus bị phồng nứt máy nghi do pin ảnh 1iPhone 8 Plus với màn hình bị phồng nứt khỏi thân máy do người dùng Anthony Wu cung cấp cho MacRumors.

Một số chủ sở hữu iPhone 8 Plus đã chia sẻ hình ảnh chiếc điện thoại của họ phồng nứt nghi do pin gây ra.

Anthony Wu, một người dùng iPhone 8 Plus ở Toronto, Canada đã chia sẻ hình ảnh tới trang tin MacRumors cho thấy màn hình điện thoại bị phồng rộp, nứt khỏi thân máy.

[Apple mở điều tra thông tin iPhone 8 Plus bị phồng nứt máy]

Anthony Wu cho biết anh này đã mua và mở hộp chiếc iPhone 8 Plus mới vào hôm Chủ Nhật 1/10, nhưng sau đấy đã buộc phải trả lại cửa hàng vào hôm thứ Hai 2/10 sau khi màn hình điện thoại bị phồng bật ra khỏi thân máy. Sự cố này có thể xảy ra do một pin bị lỗi bên trong iPhone làm tăng áp lực lên bộ phận màn hình.

MacRumors cũng đã nhận được một bức ảnh tương tự ngày 4/10 của iPhone 8 Plus với màn hình bị phồng lên từ iRepair, một cửa hàng sửa chữa iPhone, iPad và Mac ở Hy Lạp. Trong trường hợp này, người dùng đã cắm sạc iPhone qua đêm, và đến sáng chiếc điện trông giống như hình phía dưới.

Thêm trường hợp iPhone 8 Plus bị phồng nứt máy nghi do pin ảnh 2

Trong trường hợp này, người dùng được cho là chỉ sử dụng bộ sạc chính thức của Apple và cáp Lightning.

Hiện có ít nhất 5 trường hợp có thể xảy ra sự cố pin iPhone 8 Plus, gồm các trường hợp từ Đài Loan, Nhật Bản và Hong Kong vào tuần trước.

Sau hai báo cáo đầu tiên, một phát ngôn viên của Apple nói với MacRumors rằng công ty này "đã nắm được" và "đang theo dõi" vấn đề.

Với hàng triệu iPhone được xuất xưởng và hàng triệu pin lithium-ion được sản xuất, thì những sự cố trên với iPhone 8 Plus chỉ chiếm một tỷ lệ phần trăm các sản phẩm bị lỗi rất thấp.

Tuy nhiên, chúng gợi cho chúng ta tới sự cố cháy nổ pin Galaxy Note 7 của Samsung. Sau một cuộc điều tra kéo dài, Samsung cuối cùng đã thừa nhận rằng pin của Galaxy Note 7 là một lỗ hổng trong thiết kế mẫu điện thoại này./.

(Vietnam+)

Tin cùng chuyên mục

Ông Robert Bell, Đồng sáng lập ICF 2025 phát biểu tại Hội nghị Thượng đỉnh ICF 2025 tại Thành phố Hồ Chí Minh. (Ảnh: PV/Vietnam+)

Thành phố Hồ Chí Minh trên đường đua “kép”: Kế thừa Bình Dương để kiến tạo tương lai Số và Xanh

Thành phố Hồ Chí Minh đang nỗ lực hiện thực hóa mục tiêu trở thành siêu đô thị thông minh, hành trình “chuyển đổi kép” – đồng thời thúc đẩy chuyển đổi số và chuyển đổi xanh. Bài toán tưởng chừng đầy thách thức này lại có một “lời giải mẫu” ngay trong không gian mở rộng của thành phố: Mô hình phát triển từng giúp Bình Dương trở thành Cộng đồng Thông minh Toàn cầu của năm 2023.